Difracción de electrones retrodispersados (EBSD) para caracterizar la orientación cristalográfica de los materiales: texturas, fases y tamaño de grano a escala microestructural.
La difracción de electrones retrodispersados (EBSD, por sus siglas en inglés) es una técnica que opera dentro del microscopio electrónico de barrido (SEM) y que permite determinar la orientación cristalográfica de un material punto a punto sobre una superficie pulida. A partir de los patrones de difracción (líneas de Kikuchi) que genera cada punto de la muestra, el sistema construye mapas de orientación de alta resolución que revelan la microestructura cristalina real del material y su relación con las propiedades y el desempeño en servicio.
El sistema EBSD del laboratorio fue adquirido a través de un proyecto FONDEQUIP (ANID, código EQM210033) e integra un detector acoplado al microscopio electrónico de barrido, ampliando las capacidades de caracterización cristalográfica de SIMET-USACH.
Cuantificamos la orientación preferente de los cristales (textura) que dejan los procesos de conformado, laminación, tratamiento térmico o solidificación, y su influencia sobre la anisotropía del material:
Diferenciamos y cuantificamos las fases presentes según su estructura cristalina, incluso cuando tienen una composición química similar y no se distinguen por EDS:
Medimos el tamaño de grano de forma objetiva y estadística a partir de la desorientación entre puntos vecinos, evitando la subjetividad del conteo manual sobre imágenes ópticas:
Te orientamos sobre el alcance del análisis EBSD, la preparación de la muestra y los plazos.