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Microscopía Electrónica de Barrido (SEM)

Inspección y microanálisis a alta resolución con detector EDS.

Equipo

Contamos con un microscopio electrónico de barrido con detector EDS, que permite una resolución de hasta 300.000 aumentos y la realización de análisis químicos puntuales y globales.

Aplicaciones

Su uso principal es la interpretación de fractografías para descubrir el modo de falla, así como la identificación de precipitados o inclusiones en los materiales. Su aplicación en ingeniería es muy amplia.

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